MCW-2000B（渦流(liu)）漆膜(mo)、塗鍍層測(ce)厚儀(yi)

MCW-2000B型(xing)（渦流）塗層測(ce)厚儀(yi)

壹、概述：

MCW-2000B型(xing)（渦流）塗層測(ce)厚儀(yi)采用單(dan)片機(ji)技術，數(shu)字(zi)顯示、示值(zhi)穩定、操(cao)作簡(jian)單(dan)方(fang)便、觸摸按(an)鍵(jian)；且具(ju)有存(cun)儲、讀出(chu)、統計(ji)、低電(dian)壓指示(shi)、系(xi)統(tong)/零點/兩(liang)點校(xiao)準(zhun)。

二、主(zhu)要技(ji)術性(xing)能(neng)：

1、測(ce)量範(fan)圍：　　0~1250μm

2、測(ce)量誤差：　　<(3%H±1μm)

3、最(zui)小示(shi)值(zhi)：　　1μm

4、顯(xian)示方(fang)式：    4位(wei)液(ye)晶數(shu)字(zi)顯示

5、主(zhu)要功能(neng)：

(1).測(ce)量： 單(dan)探頭(tou)測(ce)厚

(2).存(cun)儲、刪(shan)除： 可(ke)存(cun)入(ru)測(ce)量數(shu)據(ju)600個，對測(ce)量中(zhong)的單(dan)個可疑數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)刪(shan)除，也(ye)可以刪(shan)除存(cun)儲區(qu)內的所(suo)有數(shu)據(ju)。

(3).讀(du)：　 讀出(chu)已存(cun)入(ru)的測(ce)量數(shu)據(ju)

(4).統(tong)計(ji)： 設有三個統計(ji)量，平均(jun)值(zhi)最(zui)大值(zhi)最(zui)小值(zhi)

(5).校(xiao)準(zhun)： 可(ke)進(jin)行(xing)零點校(xiao)準(zhun)、兩(liang)點校(xiao)準(zhun)及(ji)系(xi)統(tong)校(xiao)準(zhun)

(6).電(dian)量(liang)： 具有欠(qian)壓顯(xian)示(shi)功能(neng)

(7).打印：可(ke)打印測(ce)量值(zhi)，選配(pei)微(wei)型打印機(ji)

(8).關(guan)機(ji)：具有自動關機(ji)和(he)手(shou)動關機(ji)兩(liang)種方(fang)法

6、電(dian)源(yuan)： 　兩(liang)節(jie)1.5v電(dian)池(chi)

7、功耗：   最(zui)大功耗100mw

8、外(wai)形尺(chi)寸(cun)：126mm *51mm *27mm

9、重量(liang)：　　　約(yue) 160g（含電(dian)池(chi)）

10、使(shi)用環境(jing)溫(wen)度：　0℃~+40℃  相(xiang)對濕(shi)度：不大於90%

11、基(ji)體(ti)最(zui)小厚度：     0.3mm

12、基(ji)體(ti)最(zui)小平面(mian)的(de)直(zhi)徑(jing)：7mm

13、最(zui)小曲率(lv)半徑(jing)：     凸(tu):1.5mm      凹(ao):6mm

14、欠(qian)電(dian)壓指示(shi)：       右(you)上(shang)角顯(xian)示(shi)＂＂

*臨(lin)界(jie)厚度小：工件基體(ti)厚度大於1mm時(shi)，其塗層厚度的測(ce)量不(bu)受基(ji)體(ti)厚度影響。

三(san)、配(pei)置(zhi)：

1、塗層測(ce)厚儀(yi)主(zhu)機(ji)（MCW-2000B）         壹臺(tai)

2、1.5v電(dian)池(chi) (7號)                     二節(jie)

3、探(tan)頭(tou)                                壹支(zhi)

4、標(biao)準(zhun)樣(yang)片(pian)      　　　　　　          壹盒(he)

5、小(xiao)鋁箱(xiang)                              壹個

6、說明(ming)書(shu)、合格(ge)證(zheng)                      壹套

選(xuan)配(pei)件：微(wei)型打印機(ji)，數(shu)據(ju)線(xian)，操(cao)作軟(ruan)件，內防(fang)腐探(tan)頭(tou)