防(fang)腐(fu)蝕(shi)層檢測(ce)儀(yi)詳解！

      防(fang)腐(fu)蝕(shi)層檢測(ce)儀(yi)是(shi)針對金屬(shu)表(biao)面塗層的質量(liang)及厚薄檢測(ce)的設備(bei)，其中(zhong)，檢漏(lou)儀(yi)是(shi)檢測(ce)防(fang)腐(fu)蝕(shi)層表(biao)面有(you)無漏(lou)塗點、針孔等(deng)細(xi)小肉(rou)眼不易發現的質(zhi)量問(wen)題(ti)的(de)電火花(hua)檢漏(lou)儀(yi)和檢測(ce)防(fang)腐(fu)蝕(shi)層厚度的塗鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)。

防(fang)腐(fu)蝕(shi)層電火花(hua)檢測(ce)儀(yi)的檢漏(lou)原(yuan)理：

    由於金屬(shu)表(biao)面防(fang)腐(fu)絕緣(yuan)層(ceng)過(guo)薄、漏(lou)鐵微(wei)孔(kong)處的(de)電阻值(zhi)和氣隙密度都很小(xiao)，當檢漏(lou)儀(yi)的高壓探極(ji)經(jing)過(guo)針孔缺陷(xian)處時(shi)，形(xing)成(cheng)氣(qi)隙擊(ji)穿產(chan)生(sheng)電火花(hua)放電，同時(shi)給檢漏(lou)儀(yi)的報警(jing)電路(lu)產生(sheng)壹個脈沖(chong)信(xin)號，驅動檢漏(lou)儀(yi)電路(lu)聲光報警(jing)，來達(da)到(dao)檢漏(lou)目的。檢測(ce)的範圍(wei)：玻(bo)璃(li)鱗片(pian)、PE、冷纏帶(dai)、玻(bo)璃(li)絲(si)布、聚(ju)脲(niao)、搪玻(bo)璃(li)、玻(bo)璃(li)鋼、環氧(yang)煤(mei)瀝(li)青(qing)和橡膠(jiao)襯裏(li)等絕緣(yuan)層(ceng)。                                                                         

 防(fang)腐(fu)蝕(shi)層測厚儀(yi)的檢測(ce)範圍(wei)及原(yuan)理：

1、 檢測(ce)範圍(wei)：

可無損地(di)測(ce)量(liang)磁性(xing)金屬(shu)基(ji)體(如鋼、鐵(tie)、合(he)金和硬磁性(xing)鋼等(deng))上非(fei)磁性(xing)覆(fu)層的厚度(如鋅(xin)、鋁(lv)、鉻(ge)、銅(tong)、橡膠(jiao)、油漆等(deng))及非(fei)磁(ci)性(xing)金屬(shu)基(ji)體(如銅(tong)、鋁、鋅(xin)、錫(xi)等(deng))上非導(dao)電覆層(ceng)的(de)厚度導電金屬(shu)基(ji)體(如:橡膠(jiao)、油漆、塑料、陽極(ji)氧(yang)化(hua)膜(mo)等(deng))。

2、檢測(ce)原(yuan)理：

  2.1磁感(gan)應原(yuan)理

 主要(yao)測(ce)量(liang)磁(ci)性(xing)金屬(shu)基(ji)體上的(de)非磁(ci)性(xing)塗層厚度。利用(yong)磁性(xing)測(ce)頭(tou)經(jing)過(guo)非(fei)磁性(xing)塗層流入磁(ci)性(xing)金屬(shu)基(ji)體的磁(ci)通的大小(xiao)來(lai)測量(liang)覆層的厚度。也可以用來測(ce)量(liang)與之(zhi)對應的(de)磁(ci)阻的大小(xiao)來(lai)表(biao)示(shi)塗層的厚度。因(yin)為塗層越厚磁阻越大，反之(zhi)，磁(ci)通會越小

2.2電渦流(liu)原(yuan)理

主要(yao)利(li)用(yong)高(gao)頻(pin)交(jiao)流(liu)信(xin)號在(zai)測頭(tou)線(xian)圈中(zhong)產(chan)生(sheng)電磁場的原(yuan)理。當測(ce)頭(tou)靠近(jin)導(dao)體時救(jiu)護(hu)形(xing)成(cheng)電渦流(liu)，當測(ce)頭(tou)距離導電基體越近(jin)則(ze)渦流(liu)越大，反射(she)阻抗就(jiu)越(yue)大。當測(ce)頭(tou)距離導電基體越遠是(shi)則渦流(liu)就(jiu)越(yue)小，發射(she)阻抗越(yue)小(xiao)。這表(biao)明了(le)測頭(tou)與基(ji)體之間的(de)距離的大小(xiao)。利(li)用這個原(yuan)理就(jiu)可以測量導(dao)電基體上面(mian)的非(fei)導(dao)電塗層的厚度大小(xiao)。這種(zhong)測量原(yuan)理的(de)測(ce)頭(tou)通常采用(yong)了(le)非磁(ci)性(xing)探(tan)頭(tou)。

同時(shi)，防(fang)腐(fu)層(ceng)測厚儀(yi)具有(you)精度(du)高(gao)、數(shu)字顯示(shi)且示(shi)值(zhi)穩(wen)定(ding)、功耗低(di)、單探(tan)頭(tou)全(quan)量程(cheng)測(ce)量(liang)、體積小、重(zhong)量輕(qing)，且(qie)具有(you)存儲(chu)、讀(du)出(chu)、統計、低(di)電壓指(zhi)示(shi)、零點校(xiao)準、兩點(dian)校準及系(xi)統(tong)校準等特點。