液(ye)晶(jing)數顯(xian)MC-2000C搪玻璃(li)層厚度測(ce)量(liang)儀

MC-2000C型塗（鍍）層測(ce)厚儀

壹、概(gai)述(shu)：MC-2000C型(xing)塗（鍍）層測(ce)厚儀采用單片(pian)機技術，數字顯(xian)示(shi)、示(shi)值(zhi)穩定(ding)、操作(zuo)簡單方便(bian)、觸(chu)摸按(an)鍵(jian)；且(qie)具(ju)有存(cun)儲(chu)、讀出(chu)、統計(ji)、低(di)電壓(ya)指(zhi)示(shi)、系(xi)統校(xiao)準(zhun)。

二(er)、主要技術性(xing)能：

1、測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)：　　0~5000um

2、測(ce)量(liang)誤差：　　<3%±1um

3、最(zui)小示(shi)值(zhi)：　　1um

4、顯(xian)示(shi)方式(shi)：    4位(wei)液(ye)晶(jing)數字顯(xian)示(shi)

5、主要功能：

  (1).測(ce)量(liang)： 單探(tan)頭測(ce)厚

  (2).存(cun)儲(chu)、刪(shan)除(chu)： 可(ke)存(cun)入(ru)測(ce)量(liang)數據(ju)600個，對(dui)測(ce)量(liang)中的(de)單個可(ke)疑數據(ju)進(jin)行刪(shan)除(chu)，也(ye)可(ke)以(yi)刪(shan)除(chu)存(cun)儲(chu)區內(nei)的(de)所(suo)有數據(ju)。

  (3).讀：　 讀(du)出(chu)已存(cun)入(ru)的(de)測(ce)量(liang)數據(ju)

  (4).統計(ji)： 設(she)有三個(ge)統計(ji)量(liang)，平均值(zhi)最(zui)大值(zhi)最(zui)小值(zhi)

  (5).校準(zhun)： 可(ke)進(jin)行系(xi)統校(xiao)準(zhun)

  (6).電量(liang)： 具(ju)有欠壓(ya)顯(xian)示(shi)功(gong)能

  (7).打(da)印(yin)：可(ke)打(da)印(yin)測(ce)量(liang)值(zhi)，選配微型(xing)打(da)印(yin)機

  (8).關(guan)機：具(ju)有自(zi)動(dong)關(guan)機和(he)手(shou)動(dong)關(guan)機兩種方法(fa)

6、電源(yuan)： 　　　  兩節1.5v電(dian)池(chi)

7、功耗(hao)：   　　　最(zui)大功(gong)耗100mw

8、外形(xing)尺寸(cun)：    　126mm *51mm *27mm

9、重量(liang)：　　　　　約(yue)160g（含(han)電(dian)池(chi)）

10、使(shi)用環境(jing)溫度：　0℃~+40℃  相(xiang)對(dui)濕(shi)度：不(bu)大(da)於(yu)90%

11、基體最(zui)小厚度：     0.5mm

12、基體最(zui)小平面的(de)直(zhi)徑(jing)：7mm

13、最(zui)小曲(qu)率半(ban)徑(jing)：     凸:1.5mm      凹(ao):6mm

14、欠電(dian)壓(ya)指(zhi)示(shi)：       右(you)上(shang)角(jiao)顯(xian)示(shi)＂＂

*臨界(jie)厚度小：工(gong)件鐵基(ji)厚度大於1mm時，其塗（鍍）層厚度的(de)測(ce)量(liang)不受鐵基(ji)厚度影響(xiang)。

三、配置：

1、塗層測(ce)厚儀主機（MC-2000C）         壹臺(tai)

2、1.2V電池(chi) (7號(hao))                    二(er)節

3、探(tan)頭                               壹支

4、標(biao)準(zhun)樣片(pian)      　　　　　　         壹盒(he)

5、包裝箱                             壹個(ge)

6、說(shuo)明書、合格證(zheng)                     壹套(tao)

        選配件：微(wei)型(xing)打(da)印(yin)機，數據(ju)線(xian)，操作(zuo)軟(ruan)件，內(nei)防(fang)腐(fu)探(tan)頭