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          幹(gan)貨(huo)分(fen)享!5個(ge)影(ying)響超(chao)薄超(chao)聲波測厚儀測量(liang)的原(yuan)因

          更(geng)新(xin)時間(jian):2020-11-03  |  點(dian)擊率(lv):1888

              超(chao)薄超(chao)聲波測厚儀按(an)工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)分(fen):有共(gong)振(zhen)法(fa)、幹(gan)涉(she)法(fa)及(ji)脈沖反射(she)法(fa)等(deng)幾種(zhong),由(you)於脈沖反射(she)法(fa)並不(bu)涉(she)及(ji)共(gong)振(zhen)機理(li),與被(bei)測物表(biao)面(mian)的(de)光潔(jie)度(du)關系(xi)不(bu)密切(qie),所以超(chao)聲波脈沖法測厚儀是用戶(hu)歡迎(ying)的壹(yi)種(zhong)儀表(biao)。

              1、超(chao)薄超(chao)聲波測厚儀工作原(yuan)理(li)

              超(chao)聲波測厚儀主要有(you)主機和探(tan)頭(tou)兩部(bu)分(fen)組(zu)成(cheng)。主機電路(lu)包(bao)括發(fa)射(she)電路(lu)、接(jie)收電路(lu)、計(ji)數(shu)顯示(shi)電路(lu)三部分(fen),由(you)發(fa)射(she)電路(lu)產生(sheng)的高(gao)壓沖擊波激勵探(tan)頭(tou),產生(sheng)超(chao)聲發(fa)射(she)脈沖波,脈沖波經介(jie)質介(jie)面反射(she)後被接(jie)收電路(lu)接(jie)收,通過單片機計(ji)數(shu)處(chu)理(li)後,經液晶顯示(shi)器(qi)顯示(shi)厚度(du)數(shu)值,它(ta)主要根(gen)據(ju)聲波在(zai)試樣(yang)中(zhong)的(de)傳播速度(du)乘以(yi)通(tong)過試樣(yang)的(de)時(shi)間(jian)的(de)壹(yi)半(ban)而得到(dao)試樣(yang)的(de)厚度(du)。

              2、超(chao)薄超(chao)聲波測厚儀應用領域(yu)

              由(you)於超(chao)聲波處理(li)方便,並有(you)良(liang)好(hao)的指(zhi)向性(xing),超(chao)聲技術(shu)測量(liang)金屬(shu),非金屬(shu)材料的厚度(du),既(ji)快又(you)準確,無汙(wu)染(ran),尤其是在(zai)只(zhi)許(xu)可壹(yi)個(ge)側面可按(an)觸(chu)的(de)場(chang)合(he),更(geng)能(neng)顯示(shi)其*性(xing),廣(guang)泛(fan)用於各種板材、管材壁(bi)厚、鍋(guo)爐(lu)容(rong)器壁(bi)厚及(ji)其局(ju)部(bu)腐蝕、銹(xiu)蝕的情況(kuang),因此(ci)對冶(ye)金、造船、機械、化工(gong)、電力(li)、原(yuan)子能等(deng)各工業部(bu)門(men)的產品檢(jian)驗,對設備安(an)全運(yun)行(xing)及(ji)現(xian)代化(hua)管理(li)起著(zhe)主要的(de)作(zuo)用(yong)。

              超(chao)聲清洗(xi)與(yu)超(chao)聲波測厚儀僅是超(chao)聲技術(shu)應用(yong)的(de)壹(yi)部(bu)分(fen),還(hai)有很多領域都(dou)可以應用(yong)到(dao)超(chao)聲技術(shu)。比如超(chao)聲波霧化(hua)、超(chao)聲波焊(han)接(jie)、超(chao)聲波鉆孔(kong)、超(chao)聲波研磨(mo)、超(chao)聲波液位(wei)計(ji)、超(chao)聲波物位(wei)計(ji)、超(chao)聲波拋(pao)光、超(chao)聲波清洗(xi)機、超(chao)聲馬(ma)達(da)等(deng)等(deng)。超(chao)聲波技術(shu)將在(zai)各行(xing)各業得到(dao)越來越廣泛(fan)的應用(yong)。

              3、影(ying)響測(ce)量(liang)精度(du)的(de)原(yuan)因

              (1)覆(fu)蓋層厚度(du)大(da)於25μm時(shi),其誤差(cha)與覆(fu)蓋層厚度(du)近(jin)似成(cheng)正(zheng)比;

              (2)基體(ti)金屬(shu)的(de)電導(dao)率(lv)對(dui)測量(liang)有影(ying)響,它(ta)與基(ji)體金屬(shu)材料成(cheng)分(fen)及(ji)熱(re)處(chu)理(li)方法有關;

              (3)任(ren)何壹(yi)種(zhong)測厚儀都(dou)要求(qiu)基(ji)體(ti)金屬(shu)有(you)壹(yi)個(ge)臨(lin)界厚度(du),,只(zhi)有(you)大(da)於這(zhe)個(ge)厚度(du),測(ce)量(liang)才不(bu)會受(shou)基(ji)體金屬(shu)厚度(du)的(de)影(ying)響;

              (4)渦流(liu)測厚儀對試樣(yang)測(ce)定(ding)存在(zai)邊緣效(xiao)應(ying),,即對(dui)靠(kao)近(jin)試樣(yang)樣(yang)邊(bian)緣或(huo)內(nei)轉角(jiao)處的(de)測量(liang)是不(bu)可靠(kao)的(de);

              (5)試樣(yang)的(de)曲(qu)率(lv)對(dui)測量(liang)有影(ying)響,這(zhe)種(zhong)影(ying)響將(jiang)隨(sui)曲(qu)率(lv)半(ban)徑(jing)的(de)減(jian)小(xiao)明顯地增大(da);

              基體金屬(shu)和(he)覆(fu)蓋層的(de)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度影(ying)響測(ce)量(liang)的精度(du),粗(cu)糙(cao)度增大(da),影(ying)響增大(da)

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